附注提要
本书共分三篇, 第一篇为电子封装技术篇, 详细地介绍了电子封装技术的概念、封装的主要形式、封装的材料、主要封装工艺、封装可靠性、电气连接以及封装存在的主要问题 ; 从机械振动冲击、热力膨胀、电压电流过冲、信号完整性、电源完整性、电磁辐射、化学腐蚀等方面, 重点阐述了封装失效机理和失效模式, 同时介绍了MCM、硅通孔技术、叠层技术、无铅焊技术的发展。第二篇为微机电技术篇, 系统地介绍了微机电技术的概念和应用领域、封装特点、封装形式 ; 从气体运动的压膜、滑膜模型出发, 重点分析了影响微机电特性的气模阻尼问题, 同时阐述了压力传感器、加速度计、射