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数字系统测试
:(美) Niraj Jha, Sandeep Gupta
作者:
(美) Niraj Jha, Sandeep Gupta
出版社:
电子工业出版社
出版时间:
2007
ISBN:
978-7-121-04542-4
索书号:
TP271-43/2
分类号:
TP271-43
页数:
704页
价格:
89.00
复本数:
在馆数:
累借天数:
累借次数:
本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识, 包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等, 高级内容方面包括IDDQ测试、功能测试、延迟故障测试、CMOS测试等。
详细信息
索书号
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非线性系统理论及应用
:曹建福, 韩崇昭, 方洋旺
作者:
曹建福, 韩崇昭, 方洋旺
出版社:
西安交通大学出版社
出版时间:
2006
ISBN:
7-5605-2140-1
索书号:
TP271-43/1=2
分类号:
TP271-43
页数:
393页
价格:
38.00
复本数:
在馆数:
累借天数:
累借次数:
本书是关于非线性系统理论及应用的一本著作。书中结合我国在这个领域的最新发展, 并依据作者近年来的研究成果, 详细地介绍了非线性控制系统的分析, 辨识和综合方面的新的理论和方法。
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中文图书
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电子工业出版社
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作者
(美) Niraj Jha, Sandeep Gupta
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曹建福, 韩崇昭, 方洋旺
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