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  ASIC芯片设计从实践到提高:池雅庆, 廖峰, 刘毅

  作者：池雅庆, 廖峰, 刘毅 出版社：中国电力出版社 出版时间：2007 ISBN：978-7-5083-5378-4
  索书号：TN402/1 分类号：TN402 页数：236页 价格：26.00
  

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  本书结合具体的实例, 对ASIC芯片设计开发的整个流程及各个阶段所使用的EDA工具进行了系统地介绍。

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  SoC设计方法与实现:魏继增 ...

  作者：魏继增 ... 出版社：电子工业出版社 出版时间：2022 ISBN：978-7-121-44101-1
  索书号：TN402/4=4 分类号：TN402 页数：XIX, 307页 价格：79.90
  

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  本书共15章, 主要内容包括: SoC设计绪论、SoC设计流程、SoC设计与EDA工具、SoC系统架构设计、IP复用的设计方法、RIL代码编写指南、同步电路设计及其与异步信号交互的问题、综合策略与静态时序分析方法、Soc功能验证、可测性设计、低功耗设计、后端设计、SoC中数模混合信号IP的设计与集成、I/0环的设计和芯片封装、课程设计与实验。书中不仅融入了很多来自工业界的实践经验, 还介绍了SoC设计领域的最新成果, 可以帮助读者掌握工业化的解决方案, 使读者能够及时了解SoC设计方法的最新进展。

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  Perl语言IC设计实践:滕家海

  作者：滕家海 出版社：机械工业出版社 出版时间：2022 ISBN：978-7-111-69643-8
  索书号：TN402/5 分类号：TN402 页数：XII, 223页 价格：79.00
  

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  本书从命令行参数的实例开始, 介绍Perl语言的基础知识, 并逐步引入模块等中高阶内容。本书还详细介绍了Perl语言在IC设计中的典型应用, 覆盖模拟电路仿真、版图验证和数字电路处理。希望帮助读者尽快进入实际的Perl编程工作, 提升IC设计的效率。

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  敏捷硬件开发语言Chisel与数字系统设计:梁峰 ...

  作者：梁峰 ... 出版社：电子工业出版社 出版时间：2022 ISBN：978-7-121-43412-9
  索书号：TN402/3 分类号：TN402 页数：XII, 255页 价格：69.00
  

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  本书从实用性和先进性出发, 较全面地介绍新型硬件开发语言Chisel和数字系统敏捷化设计方法。全书分两篇。第一篇共10章, 主要内容包括Chise1语言简介、Chise1的数据类型、Chise1的模块与硬件类型、Chisel常用的硬件原语、如何将Chise1代码转换生成Verilog HDL代码及基本测试方法、Chise1的黑盒、用Chise1实现多时钟域设计、Chise1的函数应用及其他议题等。第二篇共9章, 介绍编写Chise1需要掌握的Scala语言编程基础知识。读者可以根据自身情况, 跳过第二篇Scala基础部分, 直接学习Chisel的硬件开发功能。本书提供配套的课后练习参考答案、仿真程序代码等。

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  集成电路非侵入式逆向分析:李清宝, 张平

  作者：李清宝, 张平 出版社：国防工业出版社 出版时间：2022 ISBN：978-7-118-10526-1
  索书号：TN402/6 分类号：TN402 页数：16, 272页 价格：98.00
  

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  本书主要内容包括: 概述、加密器件内部结构、脱机式逆向分析、脱机采集数据逻辑逆向综合、在线式逆向分析、在线采集数据逻辑逆向综合、直读式逆向分析。

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  全面的功能验证: 完整的工业流程:(美) Bruce Wile, John C. Goss, Wolfgang Roesner

  作者：(美) Bruce Wile, John C. Goss, Wolfgang Roesner 出版社：机械工业出版社 出版时间：2010 ISBN：978-7-111-29641-6
  索书号：TN402/2 分类号：TN402 页数：XXI, 487页 价格：98.00
  

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  本书分5个部分。第1部分的内容是功能验证概述, 包括概念背景、验证计划、验证策略和一些基本练习 ; 第2部分和第3部分关注两个最主要的功能验证方法: 基于模拟的验证方法和形式验证方法 ; 第4部分把注意力集中在验证周期的后期阶段 ; 第5部分, 是一些验证实例研究的集合, 进一步强调了验证周期和验证过程中的相关概念。

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  集成电路敏捷设计:(美) 迈克尔·萨林, Mikael Sahrling, 雷鑑铭, 刘冬生, 汪少卿

  作者：(美) 迈克尔·萨林, Mikael Sahrling, 雷鑑铭, 刘冬生, 汪少卿 出版社：机械工业出版社 出版时间：2022 ISBN：978-7-111-69918-7
  索书号：TN402/8 分类号：TN402 页数：242页 价格：99.00
  

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  本书基于丰富的案例展示了整个集成电路设计的实际应用, 涵盖从简单电路理论到电磁效应, 从高频电路设计到数据转换器和锁相环等系统。电感和电容等基本概念彼此关联, 也与现代芯片内的其他射频现象相关, 不需要仿真器即可加深理解。

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  先进集成电路电磁兼容测试与建模:(法) 亚历山大·博耶, 艾·西加, 吴建飞 ...

  作者：(法) 亚历山大·博耶, 艾·西加, 吴建飞 ... 出版社：国防工业出版社 出版时间：2022 ISBN：978-7-118-12607-5
  索书号：TN402/7 分类号：TN402 页数：XVI, 314页 价格：128.00
  

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  本书涵盖了学习如何在发射、抗扰度和信号完整性问题上对电路及其周围环境 (PCB) 进行建模的基本概念, 提出了在IC级理解电磁问题的基本理论概念及建模特点。本书基于一款免费的仿真软件-IC-EMC, 该软件致力于集成电路的电磁兼容研究, 利用这款软件分析电磁问题的根本原因、预测EMC性能、优化验证可减轻EMC问题的有效方案。通过各种案例及IC-EMC软件的演示学习给出了详细的建模方法、测试方法以及仿真与测量结果分析, 有助于为读者建立起芯片电磁兼容设计的基本框架, 熟练运用所学的知识进行芯片电磁兼容的分析与设计。

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  IC芯片设计中的静态时序分析实践:(美) J.巴斯卡尔, 拉凯什·查达, 刘斐然

  作者：(美) J.巴斯卡尔, 拉凯什·查达, 刘斐然 出版社：机械工业出版社 出版时间：2022 ISBN：978-7-111-70686-1
  索书号：TN402/9 分类号：TN402 页数：XIV, 346页 价格：135.00
  

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  本书深度介绍了芯片设计中用静态时序分析进行时序验证的基本知识和应用方法, 涉及包括互连线模型、时序计算和串扰等在内的影响纳米级电路设计的时序的重要问题, 并详细解释了在不同工艺、环境、互连工艺角和片上变化 (OCV) 下进行时序检查的方法, 同时详细介绍了层次化块 (Block) 、全芯片及特殊I0接口的时序验证, 并提供了SDC、SDF及SPEF格式的完整介绍。不管是刚开始使用静态时序分析的初学者, 还是精通静态时序分析的专业人士, 本书都是优秀的教材或参考资料。

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