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数字系统测试与可测试设计
:(美) Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
作者：
(美) Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
2006
ISBN：
7-111-19237-0
索书号：
TP271/2
分类号：
TP271
页数：
14, 449页
价格：
56.00
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本书系统地介绍数字系统测试理论和方法, 包括测试生成、故障模型、故障模拟、可测试设计、内建自测试等内容。
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文献类型
中文图书
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出版社
机械工业出版社
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作者
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