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电子产品可靠性分析与风险评估
:陈颖, 康锐
作者：
陈颖, 康锐
出版社：
国防工业出版社
出版时间：
2022
ISBN：
978-7-118-12428-6
索书号：
TN606/1
分类号：
TN606
页数：
XXV, 191页, 8页图版
价格：
98.00
复本数：
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本书针对电子产品的可靠性问题, 内容基于确信可靠性理论, 从故障物理的角度, 从热、振动、电磁环境和电载荷角度阐述产品在各种环境和载荷条件下的性能裕量和确信可靠性评估方法 ; 同时阐述故障行为及故障机理之间的物理相互关系, 提出考虑故障行为的系统建模方法, 并将其应用于电子产品的风险评估中, 形成基于故障行为的风险评估仿真方法以及基于引导仿真的故障场景自动推理方法。
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